![Der kryogene On-Wafer-Prober am Fraunhofer IAF charakterisiert vollautomatisch bis zu 25 ganze 200-mm- oder 300-mm-Wafer mit Bauelementen für Quantencomputer. © Fraunhofer IAF / The cryogenic on-wafer prober at Fraunhofer IAF enables fully automatic characterizations of up to 25 whole 200-mm or 300-mm wafers with devices for quantum computing and sensing. © Fraunhofer IAF Der kryogene On-Wafer-Prober am Fraunhofer IAF charakterisiert vollautomatisch bis zu 25 ganze 200-mm- oder 300-mm-Wafer mit Bauelementen für Quantencomputer. © Fraunhofer IAF / The cryogenic on-wafer prober at Fraunhofer IAF enables fully automatic characterizations of up to 25 whole 200-mm or 300-mm wafers with devices for quantum computing and sensing. © Fraunhofer IAF](/uploads/images/_scale/ganzeanlageweb_169_626x352.jpg)
![Blick in die Hauptkammer mit einem 200-mm-Wafer in der Mitte auf dem Chuck, der unter der Nadelkarte bewegt wird. Die Anlage prüft einen Wafer aus dem Projekt »QUASAR«, in dem Forschende Einzelelektronentransistoren basierend auf Silizium-Quantentöpfen entwickeln, die als Bauelement für Spin-Qubits genutzt werden sollen. © Fraunhofer IAF / View into the main chamber with a 200-mm wafer in the center on the chuck which is moved under the probe card. The system is testing a wafer from the QUASAR project, in which researchers are developing single-electron transistors (SETs) based on silicon quantum wells to be used as a device for spin qubits. © Fraunhofer IAF Blick in die Hauptkammer mit einem 200-mm-Wafer in der Mitte auf dem Chuck, der unter der Nadelkarte bewegt wird. Die Anlage prüft einen Wafer aus dem Projekt »QUASAR«, in dem Forschende Einzelelektronentransistoren basierend auf Silizium-Quantentöpfen entwickeln, die als Bauelement für Spin-Qubits genutzt werden sollen. © Fraunhofer IAF / View into the main chamber with a 200-mm wafer in the center on the chuck which is moved under the probe card. The system is testing a wafer from the QUASAR project, in which researchers are developing single-electron transistors (SETs) based on silicon quantum wells to be used as a device for spin qubits. © Fraunhofer IAF](/uploads/images/_scale/dsc2051geradeweb_169_626x352.jpg)
![1-K-Kryostat mit durchgeführten Leitungen für Gleichstrom- und Hochfrequenz-Messungen. © Fraunhofer IAF / 1 K cryostat with conducted lines for direct current and high-frequency measurements. © Fraunhofer IAF 1-K-Kryostat mit durchgeführten Leitungen für Gleichstrom- und Hochfrequenz-Messungen. © Fraunhofer IAF / 1 K cryostat with conducted lines for direct current and high-frequency measurements. © Fraunhofer IAF](/uploads/images/_scale/kryostat2web_169_626x352.jpg)
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- Wissenschaft
Projekt »KryoproPlus« erfolgreich abgeschlossen
Kryogener On-Wafer-Prober bestimmt die Qualität von Qubit-Bauelementen für Quantencomputing und Quantensensorik
Deutschlands erste kryogene Anlage zur statistischen Qualitätsmessung von Qubit-Bauelementen auf ganzen 200- und 300-mm-Wafern hat am Fraunhofer IAF die Arbeit aufgenommen. Der On-Wafer-Prober kann Bauelemente auf Basis von Halbleiter-Quantenpunkten und -Quantentöpfen sowie Supraleitern bei Messte…