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APMon - Advanced Particle Monitoring System

System zum kontinuierlichen Monitoring von Partikelkontamination in Reinräumen jenseits der ISO 5 Klasse


Das System erlaubt erstmalig die kontinuierliche Überwachung von Oberflächen-Belastungen durch große Partikel.  Es eröffnet Analysemöglichkeiten in Reinräumen jenseits der ISO Klasse 5, in denen kontinuierliche, extraktive Partikel - Monitoringsysteme prinzipbedingt keine Anwendungsmöglichkeiten haben.

APMON ist ein Analyse-System speziell zum kontinuierlichen Monitoring großer Partikel (> 20 Mikrometer). Dieser Einsatzzweck wird ermöglicht, indem das traditionelle Verfahren der Sedimentationsplatten-Mikroskopie in Richtung eines vollautomatischen und kontinuierlichen Analysators weiterentwickelt wurde. Konkret erfasst ein laseroptisches Verfahren die Sedimentation großer Partikel auf ein Array von Testoberflächen. Änderungen in der Partikel-Belegungszahl werden registriert  und am Ende eines bestimmten Zeittaktes (ab 5 Minuten aufwärts) als Partikelanzahl und Partikelverteilung ausgewiesen.

APMON steht nicht nur für die Erweiterung konventioneller Monitoringstrategien in Richtung größerer Partikel, sondern ist  zusätzlich eine hocheffiziente Alternative zu manuellen und personalintensiven Messreihen mit Sedimentationsplatten.

Ein APMON-System besteht aus einer zentralen Einheit zur Datenerfassung/-speicherung/-visualisierung und externen Sensoren zur Sedimentationsanalyse. Die physikalische Anbindung erfolgt über Ethernet oder (bei kleineren Systemen mit zwei Sensoren) sogar leitungslos mittels Bluetooth. Daher ist ein APMON Monitoringsystem mit denkbar geringstem Installationsaufwand verbunden und darf sich durchaus schon mit dem Attribut “plug and play“ schmücken.

• Analysesystem zur Echtzeiterfassung von Oberflächenkontamination
• Erfasst insbesondere auch große Partikel
• Anzahl der Partikel und Partikelverteilung
• Bestimmung der Particle Deposition Rate (PDR) nach kommender ISO 14644–3
• Bestimmung der Particle Deposition Class (PDC) nach ISO 14644-9
• Grafische Darstellung der Oberflächenreinheiten
• Ready to use System – keine Pumpen, Probenahmeleitungen oder sonstige komplexe Infrastruktur notwendig
• System skalierbar auf 6 Sensoren je Auswerteeinheit



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PPS PMS Systec & Solutions GmbH C-Tec